冷场发射扫描电镜及其配套能谱仪
日本HITACHI 8100
存放地:908幢2329
本仪器主要用于观察材料微观结构,以及分析材料中元素成分及其含量。①加速电压0.5KV-30 KV;②冷场发射型,二次电子图象分辨率:1KV, WD=4mm时为1.5nm;15KV,WD=4mm时为0.7nm;③最大放大倍数约30倍-200万倍; ④非定量元素分析:X射线能谱元素分析范围Be-U92。谱线分辨率129.25eV。
冷场发射扫描电镜及其配套能谱仪
日本HITACHI 8100
存放地:908幢2329
本仪器主要用于观察材料微观结构,以及分析材料中元素成分及其含量。①加速电压0.5KV-30 KV;②冷场发射型,二次电子图象分辨率:1KV, WD=4mm时为1.5nm;15KV,WD=4mm时为0.7nm;③最大放大倍数约30倍-200万倍; ④非定量元素分析:X射线能谱元素分析范围Be-U92。谱线分辨率129.25eV。